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Identification of Residual Impurities in Si-Doped MBE Grown GaAs
Acta physica Polonica, A, 1995-10, Vol.88 (4), p.775-778
Kaniewska, M.
Regiński, K.
Kaniewski, J.
Muszalski, J.
Ornoch, L.
Adamczewska, J.
Marczewski, J.
Bugajski, M.
Mizera, E.
1995
Details
Autor(en) / Beteiligte
Kaniewska, M.
Regiński, K.
Kaniewski, J.
Muszalski, J.
Ornoch, L.
Adamczewska, J.
Marczewski, J.
Bugajski, M.
Mizera, E.
Titel
Identification of Residual Impurities in Si-Doped MBE Grown GaAs
Ist Teil von
Acta physica Polonica, A, 1995-10, Vol.88 (4), p.775-778
Erscheinungsjahr
1995
Link zum Volltext
Quelle
EZB Electronic Journals Library
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0587-4246
eISSN: 1898-794X
DOI: 10.12693/APhysPolA.88.775
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_12693_APhysPolA_88_775
Format
–
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