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Molecular-beam epitaxy growth of low-threshold cw GaInNAsSb lasers at 1.5 μ m
Ist Teil von
Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures, 2005-05, Vol.23 (3), p.1337-1340
Erscheinungsjahr
2005
Link zum Volltext
Quelle
AIP Journals Complete
Beschreibungen/Notizen
The solid-source molecular-beam epitaxial growth of low-threshold GaAs-based GaInNAsSb lasers is discussed. A general narrowing of the growth window was observed with increasing wavelength, due to the increased nitrogen required
(
⩾
1
%
)
, and has historically made high-performance devices more difficult to achieve beyond
∼
1.35
μ
m
. The introduction of antimony and reduction in plasma-related damage from the rf nitrogen source dramatically improved material quality and widened the growth window. We validate these observations with
1.5
μ
m
edge-emitting ridge-waveguide lasers with cw threshold current densities as low as
440
A
∕
cm
2
, peak CW output powers of
431
mW
, peak cw wallplug efficiencies
>
16
%
, and pulsed output powers
>
1
W
.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0734-211X, 1071-1023
eISSN: 1520-8567
DOI: 10.1116/1.1914825
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1116_1_1914825
Format
–
Weiterführende Literatur
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