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Surface Raman ellipsometry
IEEE journal of quantum electronics, 1981-07, Vol.17 (7), p.1285-1292
1981

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Surface Raman ellipsometry
Ist Teil von
  • IEEE journal of quantum electronics, 1981-07, Vol.17 (7), p.1285-1292
Ort / Verlag
IEEE
Erscheinungsjahr
1981
Link zum Volltext
Quelle
IEEE Xplore
Beschreibungen/Notizen
  • A method for achieving the ultrahigh sensitivity required for surface vibrational spectroscopy is proposed. Polarization selective heterodyne detection permits shot-noise limited submonolayer detection with classically noisy picosecond laser sources. Furthermore, the polarization selectivity is used to eliminate the overwhelming thermally induced changes in surface reflecfivity.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0018-9197
eISSN: 1558-1713
DOI: 10.1109/JQE.1981.1071264
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1109_JQE_1981_1071264
Format
–
Schlagworte
Ellipsometry, Polarization, Probes, Pump lasers, Raman scattering, Reflectivity, Rough surfaces, Spectroscopy, Stimulated emission, Surface roughness

Weiterführende Literatur

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