Details

Autor(en) / Beteiligte

• Geck, Jochen
• Zwiebler, M.
• Gray, B.
• Chakhalian, J.
• Freeland, J.
• He, F.
• Koitzsch, A.
• Komissinskiy, P.
• Schierle, E.
• Sutarto, S.
• Treske, U.
• Vafaee, M.
• Weschke, E.
• Sawatzky, G. A.
• Alff, L.
• Macke, S.
• Hamann-Borrero, J. E.

Titel

Electronic depth profiles with atomic layer resolution from resonant X-ray reflectivity

Ist Teil von

• Acta crystallographica. Section A, Foundations and advances, 2015-08, Vol.71 (a1), p.s169-s169

Erscheinungsjahr

2015

Quelle

Wiley-Blackwell Journals

Beschreibungen/Notizen

• Abstract only