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1-Grad total dose evaluation of 65 nm CMOS technology for the HL-LHC upgrades
Journal of instrumentation, 2015-05, Vol.10 (5), p.C05009-C05009
2015
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
1-Grad total dose evaluation of 65 nm CMOS technology for the HL-LHC upgrades
Ist Teil von
  • Journal of instrumentation, 2015-05, Vol.10 (5), p.C05009-C05009
Erscheinungsjahr
2015
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1748-0221
eISSN: 1748-0221
DOI: 10.1088/1748-0221/10/05/C05009
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1088_1748_0221_10_05_C05009
Format
–

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