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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Investigation on Divalent Metal Substituted Bismuth Titanate Ferroelectric Thin Films
Ist Teil von
  • Integrated ferroelectrics, 2011-01, Vol.124 (1), p.26-32
Ort / Verlag
Philadelphia: Taylor & Francis Group
Erscheinungsjahr
2011
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • Divalent metals Ca, Sr, and Ba were employed to substitute for some of the A-site bismuth in Bi 4 Ti 3 O 12 (BIT). The corresponding ferroelectric thin films (named CBiT, SBiT and BBiT) were derived by metal organic decomposition. Their remanent polarization (2Pr) values were 17.32 μC/cm 2 , 8.88 μC/cm 2 and 21.34 μC/cm 2 . The smallest 2Pr value was found in SBiT, where its cation (Sr 2+ ) radius is in the middle of the three. On the other hand, the smallest coercive field was discovered in BBiT. No fatigue improvement was discovered in BBiT compared with BIT, probably due to the lowered charge amount carried by Ba 2+ .
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1058-4587
eISSN: 1607-8489
DOI: 10.1080/10584587.2011.573714
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1080_10584587_2011_573714

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