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Adhesion and friction forces between zinc oxide nanowires and silicon substrate were studied
in situ
inside a scanning electron microscope. A procedure for measuring these forces from the bending profiles of the nanowires was developed and the van der Waals and friction forces were found to be about
81.05
pN
and
7.7
nN
, respectively. The pronounced friction was explained using nanoscale adhesion-friction coupling mechanisms. Immediate implication of the findings is on the accuracy of nanomechanical characterization using bending experiments.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0003-6951
eISSN: 1077-3118
DOI: 10.1063/1.2431712
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1063_1_2431712
Format
–
Weiterführende Literatur
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