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In this work, a writing scheme with preceding negative pulse wave form for toggle magnetic random access memory (MRAM) is proposed to enhance the switching yield and enable a low current switching. The failure mechanism of toggle switching is studied by micromagnetic analysis. As a result of broadened operation window and reduced switching current, the scalability of MRAM is feasible with the robust toggle operation.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0003-6951
eISSN: 1077-3118
DOI: 10.1063/1.2181628
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1063_1_2181628
Format
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Weiterführende Literatur
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