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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Response time analysis of SiGe∕Si modulation-doped multiple-quantum-well structures for optical modulation
Ist Teil von
  • Journal of applied physics, 2004-12, Vol.96 (11), p.6109-6112
Erscheinungsjahr
2004
Link zum Volltext
Quelle
AIP Journals Complete
Beschreibungen/Notizen
  • The response time of SiGe∕Si modulation-doped multiple-quantum-well modulators is investigated. A refractive index variation is achieved by the depletion of the free carriers initially present in the wells. Both the tunneling and thermionic emissions are taken into account to study the time needed for the free carriers to escape from and to be captured into the wells. Results are presented for an optimized three-Si0.8Ge0.2-quantum-well (QW) (10-nm-thick) device. Such a QW structure can intrinsically reach an operation frequency around 13GHz.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0021-8979
eISSN: 1089-7550
DOI: 10.1063/1.1806995
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1063_1_1806995
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Weiterführende Literatur

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