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Advances in Atomic-resolution and Molecular-detection EELS
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.1028-1029
Krivanek, Ondrej L.
Dellby, Niklas
Lovejoy, Tracy C.
Egerton, Ray F.
Rez, Peter
2017
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Krivanek, Ondrej L.
Dellby, Niklas
Lovejoy, Tracy C.
Egerton, Ray F.
Rez, Peter
Titel
Advances in Atomic-resolution and Molecular-detection EELS
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.1028-1029
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2017
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927617005803
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1017_S1431927617005803
Format
–
Schlagworte
Analytical and Instrumentation Science Symposia
,
Anniversary Session: Celebrating 50 Years of Microanalysis
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