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Correlated Electron Microscopy across Length Scales to Elucidate Structural, Electrical and Chemical Properties of Oxide Grain Boundaries
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.334-335
Bowman, William J.
Kelly, Madeleine N.
Rohrer, Gregory S.
Hernandez, Cruz A.
Darbal, Amith
Crozier, Peter A.
2017
Volltextzugriff (PDF)
Details
Autor(en) / Beteiligte
Bowman, William J.
Kelly, Madeleine N.
Rohrer, Gregory S.
Hernandez, Cruz A.
Darbal, Amith
Crozier, Peter A.
Titel
Correlated Electron Microscopy across Length Scales to Elucidate Structural, Electrical and Chemical Properties of Oxide Grain Boundaries
Ist Teil von
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.334-335
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2017
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927617002355
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1017_S1431927617002355
Format
–
Schlagworte
Analytical and Instrumentation Science Symposia
,
Bridging Length Scales with 2D, 3D, and 4D Multiscale/Multimodal Microscopy
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