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Correlated Electron Microscopy across Length Scales to Elucidate Structural, Electrical and Chemical Properties of Oxide Grain Boundaries
Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.334-335
2017
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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Correlated Electron Microscopy across Length Scales to Elucidate Structural, Electrical and Chemical Properties of Oxide Grain Boundaries
Ist Teil von
  • Microscopy and microanalysis, 2017-07, Vol.23 (S1), p.334-335
Ort / Verlag
New York, USA: Cambridge University Press
Erscheinungsjahr
2017
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1431-9276
eISSN: 1435-8115
DOI: 10.1017/S1431927617002355
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1017_S1431927617002355
Format
–
Schlagworte
Analytical and Instrumentation Science Symposia, Bridging Length Scales with 2D, 3D, and 4D Multiscale/Multimodal Microscopy

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