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Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
A comparison of npn and pnp profile design tradeoffs for complementary SiGe HBT Technology
Ist Teil von
  • Solid-state electronics, 2000-11, Vol.44 (11), p.1949-1954
Ort / Verlag
Elsevier Ltd
Erscheinungsjahr
2000
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • A comprehensive comparison of npn and pnp profile design tradeoffs for SiGe HBTs is conducted using calibrated simulations. The parasitic energy band barrier induced by the SiGe/Si transition in the collector–base space charge region produces very different design constraints for pnp and npn transistors, and they must be optimized separately. A single SiGe profile is found to give acceptable performance for both npn and pnp devices, while still satisfying film stability constraints.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0038-1101
eISSN: 1879-2405
DOI: 10.1016/S0038-1101(00)00165-9
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1016_S0038_1101_00_00165_9
Format

Weiterführende Literatur

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