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Naïve Bayes classifier based on reliability measurement for datasets with noisy labels
Annals of operations research, 2023-11
Zhu, Yingqiu
Wang, Yinzhi
Qin, Lei
Zhang, Bo
Shia, Ben-Chang
Chen, MingChih
2023
Details
Autor(en) / Beteiligte
Zhu, Yingqiu
Wang, Yinzhi
Qin, Lei
Zhang, Bo
Shia, Ben-Chang
Chen, MingChih
Titel
Naïve Bayes classifier based on reliability measurement for datasets with noisy labels
Ist Teil von
Annals of operations research, 2023-11
Erscheinungsjahr
2023
Link zum Volltext
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 0254-5330
eISSN: 1572-9338
DOI: 10.1007/s10479-023-05671-1
Titel-ID: cdi_crossref_primary_10_1007_s10479_023_05671_1
Format
–
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