Sie befinden Sich nicht im Netzwerk der Universität Paderborn. Der Zugriff auf elektronische Ressourcen ist gegebenenfalls nur via VPN oder Shibboleth (DFN-AAI) möglich. mehr Informationen...

Details

Autor(en) / Beteiligte
Titel
Characteristics measurement of gain and refractive index of traveling-wave semiconductor optical amplifier
Ist Teil von
  • 光电子快报:英文版, 2005, Vol.1 (1), p.46-48
Erscheinungsjahr
2005
Quelle
Alma/SFX Local Collection
Beschreibungen/Notizen
  • A novel method to measure the gain and refractive index characteristics of traveling-wave semiconductor optical amplifier(TMA) is presented. In-out fiber ends of TWA are used to construct an external cavity resonator to produce big ripple on amplified spontaneous emission(ASE) spectrum. By this means,Hakki-Paoli method is adepted to obtain the gain spectra of TWA over a wide spectral range. From measured longitudinal mode spacing and peak wavelength shift due to increased bias current, we further calculate the effective refractive index and the refractive index change. Special feature of refractive index change above lasing threshold is revealed and explained.
Sprache
Englisch
Identifikatoren
ISSN: 1673-1905
Titel-ID: cdi_chongqing_backfile_20127604
Format
Schlagworte
光学放大器, 光纤器件, 半导体

Weiterführende Literatur

Empfehlungen zum selben Thema automatisch vorgeschlagen von bX